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光波長儀
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Optoplex光波長儀（OWM）采用本公司專有的薄膜干涉濾光技術結合與法布里-珀羅腔，并利用微驅動器和高速電子技術。其工作原理如下所示。與光通道監測器或光性能監測器相比，它利用了特有的波長參考系統來確保波長測量的高精度。Optoplex 的OWM是唯一適用于DWDM網絡系統能以高精確測量整個C-和L-波段范圍內各通道激光波長的器件，并超過了普通鎖波器可提供的精度。
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Optoplex光波長儀（OWM）采用本公司專有的薄膜干涉濾光技術結合與法布里-珀羅腔，并利用微驅動器和高速電子技術。其工作原理如下所示。與光通道監測器或光性能監測器相比，它利用了特有的波長參考系統來確保波長測量的高精度。Optoplex 的OWM是唯一適用于DWDM網絡系統能以高精確測量整個C-和L-波段范圍內各通道激光波長的器件，并超過了普通鎖波器可提供的精度。例如，該器件可同時報告50GHz間隔系統中80通道的波長，而達到的波長精度為2GHz.為滿足不同客戶的特定要求，輸出接口如DPRAM,RS-232,或USB均可定制。
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光波長儀的特性及優點：● 高動態范圍● 低溫度靈敏度● 高可靠性和重復性● 高波長精度● 高波長重復性● 內置波長參考系● 體積小● 固件可升級● 符合Telcordia GR-468標準
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光波長儀器的應用● DWDM系統中的光學性能監控● 為波長鎖定的多波長監測● 系統報警或錯誤警告● 便攜式光譜分析儀/光譜儀● 光纖光柵傳感分析儀● 光纖傳感應用，如壓力、溫度或應變等
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Parameter
Unit
SpecificationWavelength RangenmC band or L bandInput Power RangedBm-40 to -10Absolute Wavelength AccuracyGHz< ± 2.5Wavelength RepeatabilityGHz< ± 0.5Wavelength Resolution (FWHM)nm< 0.3Noise FloordBm- 55Response Timems1000Power ConsumptionW< 2Electronics Interface-RS232/DPRAMOperating Temperature°C-5 to 65Storage Temperature°C-40 to 85Dimension2mm121 x 92Notes:Certain parameter specs can be varied based on customer demands.Including PCB.
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